XRF-2020測厚儀X-RAY電鍍膜厚儀

X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變

根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。

理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。

XRF-2020鍍層測厚儀：

別稱：X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、X-RAY膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。

功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。

應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。

儀器特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

功能及應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

儀器測量精度：

表層：±5%以內，第二層：±10%以內，第三層：±15%以內

XRF-2020鍍層測厚儀規格型號如下圖

原產地：韓國

品牌：Micropioneer微先鋒

型號：XRF-2020

韓國MiceopioneerXRF-2020測厚儀型號規格

XRF-2020L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

三款機型均為全自動樣品臺自動雷射對焦,多點自動測量

適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。

XRF-2020測厚儀X-RAY電鍍膜厚儀