X-RAY電鍍膜厚儀原理
X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變
根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。
理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
XRF-2020鍍層測厚儀：
別稱：X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、X-RAY膜厚儀、膜厚測試儀
金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
特點:
XRF-2020全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量
功能及應用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：
鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
儀器測量精度：
表層：±5%以內，第二層：±10%以內，第三層：±15%以內
XRF-2020鍍層測厚儀規格型號如下圖
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出zhi來的第二次X射線的強度來。
測量鍍層等dao金屬薄膜的厚度
因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。
同時，測量也可以在10秒到幾分鐘內完成
